Математичне та комп’ютерне моделювання деформаційно-дифузійних процесів у тришарових напружених наногетеросистемах

Автор(и)

  • Роман Михайлович Пелещак Дрогобицький державний педагогічний університет імені Івана Франка, м. Дрогобич, Україна
  • Микола Васильович Дорошенко Дрогобицький державний педагогічний університет імені Івана Франка, м. Дрогобич, Україна

DOI:

https://doi.org/10.32626/2308-5878.2014-11.195-209

Ключові слова:

математична модель, точкові дефекти, самоузгоджена задача, рівняння дифузії, крайова задача, перетворення Лапласа.

Анотація

Побудовано з врахуванням самоузгодженої деформаційно-дифузійної взаємодії математичну модель просторово-часового розподілу точкових дефектів (міжвузлових атомів, вакансій) у тришаровій напруженій наногетеросистемі. Реалізовано ком­п’ю­терне моделювання перерозподілу точкових дефектів в системі комп’ютерної математики Mathematica 7.0. Розв’язок отриманих крайових задач для диференційних рівнянь отримано з використанням прямих та обернених перетворень Лапласа.

Біографії авторів

Роман Михайлович Пелещак, Дрогобицький державний педагогічний університет імені Івана Франка, м. Дрогобич

доктор фізико-математичних наук, професор, завідувач кафедри загальної фізики

Микола Васильович Дорошенко, Дрогобицький державний педагогічний університет імені Івана Франка, м. Дрогобич

кандидат фізико-математичних наук, доцент, доцент кафедри інформатики та обчислювальної математики

Посилання

Гетероструктуры с квантовыми точками: получение, свойства, лазеры. Обзор / Н. Н. Леденцов, В. М. Устинов, В. А. Щукин и др. // ФТП. — 1998. — T. 32, № 4. — С. 385–410.

Козловський В. И. Разрыв зон в структурах с одиночной квантовой ямой Zn1-xCdxTe/ZnTe, выращенных на GaAs (001) эпитаксией из молекулярных пучков / В. И. Козловський, В. Г. Литвинов, Ю. Г. Садофьев // ФТП. — 2000. — Т. 34, № 8. — С. 998–1003.

Легирование слоев GaAs кремнием в условиях низкотемпературной мо-лекулярно-лучевой эпитаксии / М. Д. Вилисова, А. Е. Куницын, Л. Г. Лаврентьева и др. // ФТП. — 2002. — Т. 14, № 11. — C. 3157–3161.

Структура и свойства слоев InGaAs, выращенных методом молекулярно-лучевой эпитаксии при низкой температуре / М. Д. Вилисова, И. В. Иво-нин, Л. Г. Лаврентьева и др. // ФТП. — 1999. — Т. 33, № 8. — С. 900–905.

Влияние рассогласования параметров решеток на структурные, оптические и транспортные свойства слоев InGaAs, выращиваемых методом мо-лекулярно-пучковой эпитаксии на подложках InP (100) / А. Е. Жуков, А. Ю. Егоров, В. М. Устинов и др. // ФТП. — 1997. — Т. 31, № 1. — С. 19–22.

Карпович И. А. Образование и пассивация дефектов в гетероструктурах с напряженными квантовими ямами GaAs/InGaAs при обработке в водо-родной плазме / И. А. Карпович, А. В. Аншон, Д. О. Филатов // ФТП. — 1998. — T. 32, № 9. — С.1089–1093.

Пелещак Р. М. Самоорганізований дифузійно-деформаційний розподіл точкових дефектів у напружених гетеросистемах / Р. М. Пелещак, О. В. Кузик // УФЖ. — 2007. — Т. 52, № 7. — С. 689–694.

Кузик О. В. Деформація ґратки та просторовий перерозподіл точкових дефектів у напруженому епітаксійному шарі / О. В. Кузик, Р. М. Пелещак // УФЖ. — 2006. — Т. 51, № 4. — С. 404–407.

Emel’yanov V. I. A Hierarchy of the formation of nanometer clusters and peri-odic structures of laser-indused defects / V. I. Emel’yanov, I. M. Panin // Laser Physics. — 1996. — Vol. 6, № 5. — P. 971–978.

Chen Y. C. Suppression of defect propagation in semiconductors by pseudo-morphic layers / Y. C. Chen, J. Singh, P. K. Bhattacharya // J. Appl. Phys. — 1993. — Vol. 74, № 6. — Р. 3800–3804.

##submission.downloads##

Опубліковано

2014-07-10